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FEG系列” 場發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡

FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡”

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

賽可 3200M 經(jīng)濟型臺式掃描電鏡

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FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品介紹：FEI “Q系列"掃描電子顯微鏡
是較經(jīng)濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。
產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-09-30
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品品牌：其他品牌
產(chǎn)品廠地：廣州市
訪問次數(shù)：4036
在線留言 400-875-1717轉(zhuǎn)809

產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

對于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是最經(jīng)濟、高效的高分辨成像和分析應用的解決方案。在設計上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。

為應對不導電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設計和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。

為滿足客戶對大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實現(xiàn)高效操作。
利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。
快速輕松表征導電和非導電樣品
支持可選的分析功能。利用獨有的多級穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導電樣品和不導電樣品的精確EDS分析成為可能。
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動態(tài)原位分析。

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

分辨率

加速
電壓

探針電流樣品臺

放大率

試件室尺寸

Q25 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

13 to 1000000x

284 mm size left to right

Q45 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

Extended vacuum mode (ESEM)
3.0 nm at 30 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

6 to 1000000x

284 mm size left to right

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