X射線熒光光譜儀XRF

產品介紹

    X射線熒光光譜儀XRF是一種用于分析樣品中元素組分的科學儀器。它利用X射線激發(fā)樣品的原子，并測量樣品熒光產生的特定能量的光譜。通過分析樣品中各個元素有的熒光峰，可以得出樣品中元素的種類和含量信息。貝拓科學X射線熒光光譜儀THORX具有高分辨率、高準確性和快速分析的特點，適用于多種領域，如材料科學、環(huán)境監(jiān)測、地質探測等。

    工作原理：

    X射線熒光光譜儀XRF通過利用X射線激發(fā)樣品并觀察其發(fā)射的熒光X射線來分析樣品中的元素組成。首先，X射線管產生高能量的X射線束，這些X射線穿過樣品并與樣品中的原子相互作用。這種相互作用會導致樣品原子內部的電子被激發(fā)出來，形成空位。隨后，外層電子會填補這些空位，產生特定能量的熒光X射線。熒光X射線的能譜經過探測器檢測和分析，記錄下樣品中存在的元素及其相對含量。最后，通過專業(yè)軟件對這些數(shù)據(jù)進行處理和分析，可以準確確定樣品中各種元素的含量。 

     儀器特點：

    ●寬波段范圍：該儀器能夠覆蓋廣泛的元素范圍，包括輕元素到重元素的檢測

    ●高精度：儀器采用先進的檢測技術和精確的分析算法，能夠提供準確的元素定量分析結果

    ●非破壞性分析：使用X射線激發(fā)樣品，無需破壞樣品的完整性，可以對寶貴或難以獲取的樣品進行分析

    ●快速分析：儀器具有高效的樣品處理和分析速度，能夠在短時間內完成大量樣品的分析，提高工作效率

    ●高靈敏度：儀器具有高靈敏度的探測器，能夠檢測到微量元素的存在，并提供可靠的分析結果

    ●用戶友好性：儀器采用直觀的操作界面和簡單易用的軟件，方便操作者進行樣品分析和數(shù)據(jù)處理

    技術參數(shù)：